复杂结构解析及电热功能原位分析高通量-高分辨表征平台

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  •  存放地点:江湾校区二号交叉学科楼地下室

  • 电子枪类型:超高亮度热场发射电子枪

  • TEM信息分辨率:0.12nm

  • STEM分辨率:0.16nm

  • 配置加热样品杆

  • 实时相位差衬度成像功能和配备实时积分相位差衬度成像功能;

  • 底装高速采集相机:像素感应尺寸:≥4096x4096像素,像素大小:≥14x14μm2

设备介绍

该平台将高分辨率STEM和TEM成像与业界领先的能量色散X射线光谱(EDS)信号检测技术结合。在进行样品的快速筛查的同事可以快速进行HRTEM和HRSTEM模式切换及成像。配备4个柱内SDD Super-X探头,在所有维度下均可实现极快速精准的EDS分析。

样品局部区域元素分布能谱分析




选区电子衍射

镍薄膜的畴界研究