
场发射透射电子显微镜
负责人:张曼
联系电话:021-31242882
联系邮箱:zhangman@fudan.edu.cn
存放地点:江湾校区二号交叉学科楼地下室
TEM分辨率:≤0.1 nm
STEM分辨率:≤0.14 nm
加速电压:80、120 kV
X-FEG低能散冷场发射电子枪
Ceta-S相机,Falcon 4i直接电子检测器
EDS和Tomography软件
配置电子能量损失谱
聚合物组装体、生物、化学、医用材料等领域,实现样品的快速、精确的形貌观察、微区结构的晶相结构和元素分布的定量和半定量分析。

成像能力

元素分析能力

三维成像能力

冷冻传输样品杆最低温度为-170 ℃,利用快速冷冻制样技术将样品固定在玻璃态冰层中,避免了水或溶剂结晶 对样品结构的破坏。
主要用于在液氮温度下将样品无霜转移至透射电子显微镜(TEM),降低样品表面碳迁移速率,从而抑制样品污染,减少样品的污染和电子束损伤,广泛应用于蛋白质、高分子、有机分子等电子束敏感样品。

主要用于液态样品的直接观测,通过氮化硅窗口封装和微流控芯片,可实现原位浓度变化、加温、加电等调控,对于原位研究结晶、自组装、催化过程、电池充放电过程等反应的动力学机理具有重要意义。

