设备介绍

日本电子的JEM-F200是一款先进的多功能场发射透射电子显微镜，集高通量自动化、卓越成像性能、高效成分分析和独特的信号探测能力于一体，为纳米科学与材料研究提供了强大的综合研究平台。JEM-F200具备全自动进出样系统，不仅大幅提升了实验效率，避免了手动操作可能导致的真空破坏，也为复杂的多条件测试提供了便利。该仪器有着出色成像效果。支持高分辨透射成像、衍射分析以及透射模式明场、暗场像以及STEM模式下的高角环形暗场，环形明场像等多种成像模式，能够获得材料在原子尺度的清晰结构和成分衬度图像。其四透镜电子光学设计确保了在各种模式下的高稳定性。在成分分析方面，JEM-F200可集成高性能的超级能谱仪，能够进行快速、灵敏的元素定性、半定量分析，大面积元素面分布扫描以及原子级的面分布结果，实现对材料化学成分的精准表征。此外，该仪器的一个显著特点是具备二次电子成像功能。通过内置的二次电子探测器，JEM-F200可以在STEM模式下获得样品的表面衬度信息，其成像效果类似于扫描电子显微镜，为观察纳米颗粒的三维形貌、表面结构等提供了独特视角，实现了透射电镜内部“一举多得”的分析效果。JEM-F200配备了直观的图形化操作界面和强大的自动化功能，旨在简化工作流程，使研究人员能够更专注于科学发现本身，轻松获得高通量、高性能的分析结果。