主要性能和指标

1. 四通道宽场荧光显微镜；

2. 多离子源：Xe、Ar、O；

3. 全自动上样器（12个载网）；

4. 低位T1检测器和高位T2检测器；

5. 180°倾转功能CompuStage；

6. AutoScript Offline软件。

设备特点

专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计，可以稳定地在原位制备厚度约为 200 nm 或更薄的冷冻薄片,避免镓离子注入效应, 与光学显微镜关联；可进行自动化、高通量、高质量薄片制备；优化的冷冻操作环境,可与冷冻透射电镜直接联用。