主要性能和指标

1. 高亮度场发射电子枪；

2. 加速电压：20-200 KV；

3. 合轴：80 KV、200 KV；

4. Low Dose成像功能；

   TEM模式：
   1)线分辨率：0.10 nm；
   2)信息分辨率：0.12 nm；
   3)放大倍数：25~1,050,000倍；

   STEM模式：
   1)分辨率：0.16 nm；
   2)配置探头：高角环形暗场（HAADF）探头，8分段明场（BF）和环形暗场（ADF）探头。

设备特点

具备高亮度场发射电子枪、高角环形暗场（HAADF）探头、8分段明场（BF）和环形暗场（ADF）探头等装置的场发射透射电子显微镜，同时具有Low Dose成像功能，可对金属、陶瓷、高分子、半导体、纳米颗粒、细胞组织等各类材料进行形貌观察和超微结构表征；可进行电子衍射和晶体结构分析，结合能谱仪可进行点、面元素分布分析，STEM模式下可同时高效采集不同探头图像。