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透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是一种利用高能电子束作为“光源”,穿透专业制备的样品,通过电磁透镜进行聚焦和放大,从而获得样品内部极高分辨率的显微图像和成分信息的科学仪器。
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透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)是一种利用高能电子束通过试样时和物质原子发生交互作用所产生的各种信息研究物质微观结构的分析仪器,具有极高的分辨本领,是材料科学、生物学、医学等领域中非常重要的研究工具之一。